DevEco Studio测试之DFX

过去30年，华为踩过无数的坑。现在华为将踩过的坑总结成了经验，固化到产品开发中，形成了一套独具特色的开发测试能力——DFX（Design for eXcellent）。

DFX主要是诊断APP常见的内存越界，内存泄漏，卡死/卡顿这三项问题，能帮助广大开发者提前消除疑难BUG。

内存越界

内存越界使用，容易产生有着极大不确定性的问题。这种问题不易重现，甚至有时不会对程序的运行产生影响，所以容易被忽视。但这个问题一旦爆发，将造成致命性的打击和破坏。

要想解决内存访问越界，得进行仔细的代码走查、单步跟踪、观察变量，并在调试环境的帮助下对变量进行写入跟踪。此外，还值得注意的是，有时出现错误的地方，往往不是真正内存越界的地方。要想快捷高效地解决这个问题，可以使用DevEco Studio的DFX测试，通过内存标记和调用追踪，即可精准的定位到越界代码行。

内存泄漏

虽然垃圾回收器会帮忙清理大部分无用的内存空间，可对于在引用和逻辑上不再用到的对象，垃圾回收器不会回收。这部分内存空间使用后没被回收，会导致内存泄漏。虽然一次内存泄露的危害可以忽略，但内存泄露不断地堆积,迟早会占光所有内存。

内存泄漏按照发生的方式分类，可分为:1.常发性内存泄漏；2.偶发性内存泄漏；3.一次性内存泄漏；4.隐式内存泄漏。其中隐式内存泄漏是最难被检测出且危害性最大的。

DevEco Studio的DFX测试采用全栈部署，从识别问题到自动开启调用链，再到问题定位，最后站式定位内存泄漏的代码行，快速帮助开发者找到bug所在。

卡顿/卡死

手机APP卡死/卡顿，需要用户强制关闭、重启，不仅浪费手机电量，还白白浪费了流量，易造成用户体验不佳、用户流失。

此外，卡死/卡顿频发的原因一般很难排查，一方面链路太长，寻找原因无从下手；另一方面日志不全或监控不足，导致发现问题不及时。

好在DevEco Studio的DFX测试采用多探针联合检测判决，覆盖系统各个层次，多维全面监控冻屏问题；并提供完整的卡死，崩溃调用栈日志，精准检测引发卡死/卡顿的原因所在。

看到这里，是不是对华为专项的DFX测试产生了强烈的兴趣，欢迎点击DFX测试进行体验。